enj2005-b半导体分立器件测试系统系列 系统概述： 设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在pc窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补 偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。 面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。 系统特征： ● 测试范围广（19大类，27分类） ●升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000v,1250a ● 采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300us ● 被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试，确保被测器件不受损坏 ● 真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导，其结果与器件实际值偏差很大） ● 系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排除故障 ● 二极管极性自动判别功能，无需人工操作 测试参数： 漏电参数：ir、icbo、lceo/s/x、idss/x、idoff、idrm、irrm、icoff、idgo、ices、igesf、igesr、iebo、igssf、igssr、igss、igko、ir(opto) 击穿参数：bvceo bvces(300μs pulse above 10ma)bvdss、 vd、 bvcbo、 vdrm、 vrrm、 vbb、bvr 、 vd+、vd-、bvdgo、bvz、bvebo、 bvgss、 bvgko 增益参数：hfe、ctr、gfs、 导通参数：vcesat、vbesat、vbeon、 vf、vt、vt+、vt-、 von、vdson、vdon、vgson、vf(opto-diode)vgsth、vgeth、vtm、vsd、idon、vsat、idon、 notch = igt1，igt4、icon、vgeon、vo(regulator)、iin(regulator) 混合参数：rdson、gfs、input regulation、output regulation 关断参数：vgsoff 触发参数：igt、vgt 保持参数：ih、ih+、ih- 锁定参数：il、il+、il- 基础配置： 技术参数 enj2005-b型 主极电压 10mv-2000v 主极电流 100na-50a 扩展电流 100a、200a、400a、500a 电压分辨率 1mv 电流分辨率 100na 测试精度 0.5%+2lsb 测试速度 0.5ms/参数